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X線解析装置
(X-ray Diffractometer:XDR)
| XRD（X線回折）は、試料にX線を照射したときの回折による反射強度により、結晶性や結晶の格子定数の決定、物質の特定、結晶配向性を調べることができる。 試料にX線を照射すると、X線は試料の格子点の原子により散乱され、互いに干渉しあって干渉像を作る。反射波が同位相になり、強められる条件はブラックの回折条件より ２ｄsinθ＝ｎ によって表される。ｄは結晶の面間隔、θはX線の入射角、λはX線の波長である。この式から、 λはあらかじめわかっているので、ｄを求めることができ、ピーク位置で結晶配向性や、半値幅（FWHM）から結晶性を知ることができる。 |
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XRDの原理
